| 专利名称 | 一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法 | 申请号 | CN201610614734.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106291512A | 公开（授权）日 | 2017.01.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 李传荣;朱晓玲;周梅;黎荆梅;张慧静;马莲;陈玖英;吴昊昊;李伟 | 主分类号 | G01S7/497(2006.01)I | IPC主分类号 | G01S7/497(2006.01)I;G01S17/08(2006.01)I | 专利有效期 | 一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法 至一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种阵列推扫式激光雷达测距非均匀性校正的方法，采用N个激光通道的阵列推扫式激光雷达探测靶板，改变所述阵列推扫式激光雷达与靶板相对位置，对靶板进行M次探测，获取各激光通道对应的激光雷达数据和全站仪数据，并通过坐标转换等操作，构建非均匀性校正模型，以任一激光通道的实际测距值为基准校正其它各激光通道的实际测距值。 |
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