| 专利名称 | 光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 | 申请号 | CN201610647092.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106248046A | 公开（授权）日 | 2016.12.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 唐玉国;糜小涛;吉日嘎兰图;冯树龙;张善文;齐向东;巴音贺希格 | 主分类号 | G01C1/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C1/00(2006.01)I | 专利有效期 | 光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 至光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光栅刻划刀方位角的测量装置及其测量方法，其包括安装座、旋转台和观察镜，其中，安装座用于待检测刀架的安装与定位，而旋转台包括固定部和旋转部，旋转部和固定部沿周向均具有角度刻度，安装座安装在旋转部上；观察镜具有位于基准位置的定位标识，观察镜能够与旋转台相对。使用该装置时，将带有光栅刻划刀的刀架安装于定位好的安装座上，而安装座固定在旋转部上，调整旋转台的位置于基准位置，使旋转台与观察镜相对，然后转动旋转部使光栅刻划刀的刀刃与定位标识重合，此时，旋转部相对于固定部的转动角度即为光栅刻划刀的方位角。本申请中的测量装置可直接测得方位角，不需要重复操作，准确性高、效率高。 |
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