| 专利名称 | 光谱测试装置及其测试方法 | 申请号 | CN201510213333.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106197665A | 公开（授权）日 | 2016.12.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院苏州纳米技术与纳米仿生研究所 | 发明（设计）人 | 张敏;张志强;田飞飞;刘磊;郑树楠;周桃飞;徐科 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 光谱测试装置及其测试方法 至光谱测试装置及其测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种光谱测试装置，包括：用于对待测光谱进行分光的单色仪，其至少包括用于出射经分光的待测光谱的出光狭缝；与出光狭缝相对设置的光谱放大器，其对经由出光狭缝出射的经分光的待测光谱进行放大；及邻近于光谱放大器设置的探测器，其用于探测经放大的待测光谱。经该光谱测试装置测试的待测光谱探测信号强度高、分辨率高，且空间占有小，该光谱测试装置未通过增加光栅刻线数及系统有效焦长的方法来提高分辨率，制作简单、成本低。本发明还公开了利用上述光谱测试装置的测试方法，包括步骤：单色仪对待测光谱进行分光并经由出光狭缝出射；光谱放大器放大经出光狭缝出射的经分光的待测光谱；探测器探测经放大的待测光谱。 |
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