| 专利名称 | 一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法 | 申请号 | CN201610577183.2 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106092336A | 公开（授权）日 | 2016.11.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家空间科学中心 | 发明（设计）人 | 武林;刘浩;金梦彤;张成;吴季 | 主分类号 | G01J5/60(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J5/60(2006.01)I | 专利有效期 | 一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法 至一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种一维干涉式微波辐射计图像反演方法，包括：测量一维干涉式微波辐射计中各单元天线的二维天线方向图，并对天线单元阵列进行稀疏排布，形成满足成像要求的基线覆盖；将二维天线方向图转换为一维天线方向图，并利用转换得到的一维天线方向图计算得到一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵；利用一维干涉式微波辐射计的测量系统响应矩阵和系统测量并校准后的可见度函数，进行图像反演得到高精度亮温图像。 |
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