| 专利名称 | 摆镜特性参数测试装置及测试方法 | 申请号 | CN201610431205.4 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106017864A | 公开（授权）日 | 2016.10.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘尚阔;薛勋;赵建科;周艳;李坤;段亚轩;田留德;昌明;曹昆 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 摆镜特性参数测试装置及测试方法 至摆镜特性参数测试装置及测试方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种摆镜特性参数测试装置及测试方法。装置包括光源组件、显影屏、光斑中心获取系统和放置在光源组件出射光路上的摆镜；在光源组件的出射端口处安装有光阑，光阑具有多个大小不同的圆形通光孔；显影屏位于摆镜的反射光路上，能接收摆镜在各位置的反射光，摆镜的反射光在显影屏上形成光斑；光斑中心获取系统用于记录显影屏上的光斑图像及其中心坐标。方法包括步骤：1)对光源组件、显影屏和光斑中心获取系统的位置关系进行标定；2)打开光源组件，其发出的平行光经摆镜反射后在显影屏上形成光斑；3)获取显影屏上的光斑图像及其中心坐标；4)对步骤3)中所得数据处理，得到摆镜特性参数。本发明测角范围大、测量效率高。 |
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