| 专利名称 | 正电子束团在材料中湮没分布的测量方法和测量系统 | 申请号 | CN201610475028.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105911078A | 公开（授权）日 | 2016.08.31 | 申请（专利权）人 | 中国科学院高能物理研究所 | 发明（设计）人 | 况鹏;曹兴忠;张鹏;王宝义;卢二阳;李崇;于润升;章志明;魏龙 | 主分类号 | G01N23/207(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/207(2006.01)I | 专利有效期 | 正电子束团在材料中湮没分布的测量方法和测量系统 至正电子束团在材料中湮没分布的测量方法和测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种正电子束团在材料中湮没分布的测量方法和测量系统，所述测量方法由测量系统进行，所述测量系统包括正电子束团发生器、束团加速器、探测器以及示波器，其中，所述测量方法包括以下步骤：使用所述正电子束发生器产生正电子束团；将所述正电子束团通入到所述束团加速器中进行加速，其中所述束团加速器用于对正电子束团的能量进行调节；经加速后的所述正电子束团运动到与所述正电子束发生器相对设置的材料中发生湮没并发射出伽马射线束；将所述伽马射线束投射到探测器上，所述探测器收集所述伽马射线束并将光信号转化为电信号；由示波器记录并保存所述电信号。通过上述测量方法可测量出材料的微观结构及其结构的空间分布情况。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障