| 专利名称 | 一种用于深井探测的X射线荧光测井探管 | 申请号 | CN201610220817.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105866155A | 公开（授权）日 | 2016.08.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院声学研究所;成都理工大学 | 发明（设计）人 | 王秀明;葛良全;徐德龙;张庆贤;陈德华;曾国强;丛健生;杨强 | 主分类号 | G01N23/223(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/223(2006.01)I;G01V5/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于深井探测的X射线荧光测井探管 至一种用于深井探测的X射线荧光测井探管 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供了一种用于深井探测的X射线荧光测井探管，包括：设置于管体(1)内的激发源(4)、探测器、核脉冲信号处理电路、电源电路、通讯电路和冷却装置，所述的管体(1)上开设有探测窗口(2)；所述的冷却装置将探测器密封于管体(1)内，并通过电源电路驱动其冷却探测器。本发明的探管通过采用简单的电制冷结构，使其能够在高温、高压环境下实现X射线荧光测井，直接测量井壁元素含量，从而适合应用在野外的地质勘查中；且该探管所实现的仪器结构简单，通过将冷却装置集成于管体内部，降低了探管的空间，使其能够在小口径测井中使用，满足矿产勘查的需求。 |
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