| 专利名称 | 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置 | 申请号 | CN201820401439.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208012837U | 公开（授权）日 | 2018.10.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 昌明;赵建科;李晶;薛勋;曹昆;胡丹丹 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种大口径均匀光源的均匀性测试装置 至一种大口径均匀光源的均匀性测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及光学测试技术领域，针对现有均匀光源均匀性测试装置中，面均匀性测试装置有效扫描区域不完整，角均匀性测试装置不能通用、结构复杂、难以满足均匀光源出射面直径不断增大的实际需要，提供一种大口径均匀光源的均匀性测试装置，其包括支架、升降装置、平台位置转换装置、载物台、摆臂、滑块、探测器位置转换装置、光亮度探测器以及测量控制系统；升降装置设置在支架上，载物台通过平台位置转换装置设置在升降装置上；载物台设置旋转电机，摆臂安装在旋转电机的输出端；滑块安装在摆臂上，光亮度探测器通过探测器位置转换装置安装在滑块上，光亮度探测器、旋转电机和滑块驱动电机分别与测量控制系统电连接。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障