| 专利名称 | 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置 | 申请号 | CN201820355201.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN208012761U | 公开（授权）日 | 2018.10.26 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 严强强;魏儒义;陈莎莎;于建东;王帅 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I;G01J3/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置 至一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种宽谱段高分辨光谱干涉测量装置，包括沿光路依次设置的第一色散系统、像切分器、第一聚光模块、第二准直模块、干涉模块、光压缩模块、第三准直模块、第二色散系统及探测器；首先将目标光准直后色散至探测器行像元或列像元上；然后按照不同谱段反射至同一平面的不同位置；再将反射光束准直后进入干涉模块获得干涉条纹；再将干涉条纹沿与干涉条纹垂直方向压缩；最后将压缩后的干涉条纹沿探测器行像元方向或列像元方向进行二次色散，获得高分辨光谱干涉条纹。解决了宽谱段高分辨率光谱干涉受到探测器行或者列像元数限制、交叉色散导致光谱谱线弯曲等的问题，实现一种宽谱段，高精度，高信噪比的视向速度探测方案。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
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