| 专利名称 | 基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法 | 申请号 | CN201711122625.5 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107966337A | 公开（授权）日 | 2018.04.27 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 杨赛红;闫欣;陈意;李秋立;唐旭;谷立新;苏本勋 | 主分类号 | G01N1/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/28(2006.01)I | 专利有效期 | 基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法 至基性-超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基性?超基性岩中斜锆石原位测年样品的制备方法，包括：将所述薄片样品上的基性?超基性岩样品划分为多个子区域；对所述薄片样品喷镀导电材料；通过扫描电镜能谱仪寻找基性?超基性岩样品中的锆元素，得到锆元素面分布图；将电镜的基性?超基性岩样品中出现锆元素峰的位置导航到可见的视野中；确定视野内的基性?超基性岩样品中的斜锆石矿物的位置；在基性?超基性岩样品上对所述斜锆石矿物的位置进行标记；钻取标记好的所述矿物斜锆石。本发明能够解决难以从基性?超基性岩中分选出斜锆石的问题。 |
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