| 专利名称 | 一种采用双线阵图像探测器的角位移测量系统 | 申请号 | CN201611070663.6 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106482669A | 公开（授权）日 | 2017.03.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 于海;万秋华;杜颖财;杨守旺;卢新然 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种采用双线阵图像探测器的角位移测量系统 至一种采用双线阵图像探测器的角位移测量系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种采用双线阵图像探测器的角位移测量系统，该角位移测量系统主要包括主轴、光源、双光学透镜、光栅码盘、双线阵图像探测器、数据采集电路、译码及角度细分电路，工作时主轴带动光栅码盘转动，光源发出平行光源透过光栅码盘通过光学透镜映射到线阵图像探测器成像，数据采集电路采集其中一个线阵图像探测器数据并送入译码及细分电路进行处理得到初始角度数据，采集放置在码盘对径位置的另一个线阵图像探测器数据实现对初始角度数据的误差补偿计算，并输出所测量角度信息。本发明采用线阵图像探测器实现对光栅码盘旋转角位移的识别，并采用双线阵图像探测器实现误差修正，极大的提高了使用小尺寸光栅码盘实现角位移测量时的测角精度。 |
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