| 专利名称 | 一种高精度轴系旋转精度的光学测量装置 | 申请号 | CN201820160649.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207963765U | 公开（授权）日 | 2018.10.12 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴金才;王天洪;何志平;舒嵘;王建宇 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种高精度轴系旋转精度的光学测量装置 至一种高精度轴系旋转精度的光学测量装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种高精度轴系旋转精度的光学测量装置，该专利利用光学方法来测量转台旋转精度,利用光轴来不断逼近机械转轴并通过对光轴跳动量的测量来获得机械转轴精度。具体是利用平行光穿过机械转轴，并成像于随转轴转动的检测相机的焦面上,机械转轴转动时检测相机的成像点会随之运动，运动轨迹接近与圆形,圆心位置则对应机械转轴，通过调节平行光的方向使得成像点接近圆心,通过多次调节及逼近最终使得成像光斑质心随转轴转动变化最小,该质心变化量与成像相机焦距的比值即为转轴的旋转精度,且机械转轴与光轴重合。本专利装置结构简单、成本低廉、标定方法简单。 |
1、源头对接，价格透明
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