| 专利名称 | 一种用于电离层H、He同位素测量的仪器 | 申请号 | CN201820245878.5 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207923780U | 公开（授权）日 | 2018.09.28 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 刘子恒;贺怀宇;苏菲;魏勇;李坤 | 主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N27/62(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于电离层H、He同位素测量的仪器 至一种用于电离层H、He同位素测量的仪器 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及同位素分析技术领域，具体涉及一种用于电离层H、He同位素测量的仪器。利用金箔接受电离层轰击收集H、He等离子体，在密闭空间下对所述金箔加热将所述H、He等离子体释放为混合中性气体，在所述密闭空间内对所述混合中性气体电离分析其同位素组成得到H、He同位素的混合信号；吸附所述混合中性气体中的氢气，对剩余气体进行电离分析He同位素组成，通过计算得到H同位素的信号。本实用新型提供的测量仪器和方法实现了对电离层等离子体同位素原位测量测试分析从无到有的突破。 |
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