| 专利名称 | 用于光学元件性能检测的试验台 | 申请号 | CN201820097487.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207894592U | 公开（授权）日 | 2018.09.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 齐威;齐月静;王宇;卢增雄;李兵 | 主分类号 | G01M11/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/04(2006.01)I | 专利有效期 | 用于光学元件性能检测的试验台 至用于光学元件性能检测的试验台 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型属于光学元件性能检测设备技术领域，具体涉及一种用于光学元件性能检测的试验台。该试验台包括基座和工件台，所述基座用于支撑所述工件台并能够带动所述工件台共同移动，所述工件台上设有横向调节单元，所述基座包括支撑板，所述支撑板的下方设有可移动单元，所述可移动单元和所述支撑板之间设有高度调节单元，所述支撑板的上方的两个对称面上设有纵向调节单元，所述试验台的左、右两侧机架上均设有纵向限位单元。通过使用本实用新型所述的用于光学元件性能检测的试验台，能够为工件台提供一个可调节的安装基准面，同时装置本身具有能够实现平移运动，在工件台搬运过程中无需借助外部工具，简化了搬运过程。 |
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