一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置

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专利名称 一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置 申请号 CN201721688777.7 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN207816558U 公开(授权)日 2018.09.04 申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 余鹏程;徐亮;张仲凯;刘宇;张逍;曹金祥 主分类号 G01M9/06(2006.01)I IPC主分类号 G01M9/06(2006.01)I 专利有效期 一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置 至一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型公开了一种用于高速流场等离子体参数诊断的平装探针装置,该装置包括平装探针,其中,平装探针将探针电极表面与绝缘套表面相齐平。该结构很好的解决了在高速流场等离子体中,传统的静电探针由于电极裸露而在流场中易被损坏,以及传统静电探针伸出飞行物表面而影响飞行安全的问题。由此可见,在高速流场等离子体环境中,平装探针可以代替静电探针更好的诊断等离子体参数信息。本实用新型采用电极表面和飞行物表面相齐平的结构,成功的解决了传统朗缪尔探针电极裸露易绝缘和损坏的难点。

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