| 专利名称 | 全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆 | 申请号 | CN201610408612.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105823908A | 公开（授权）日 | 2016.08.03 | 申请（专利权）人 | 中国科学院宁波材料技术与工程研究所;兰州大学 | 发明（设计）人 | 夏卫星;郑修军;彭勇;关超帅;胡阳;杨保林;张军伟;马鸿斌;薛德胜 | 主分类号 | G01Q30/20(2010.01)I | IPC主分类号 | G01Q30/20(2010.01)I | 专利有效期 | 全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆 至全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种全温区热电两场透射电子显微镜原位样品杆，包括DEWAR固定圈、DEWAR外罐上部、DEWAR外罐下部、导向销、样品杆外壳、密封圈、固定件和样品杆头、DEWAR內罐上部、DEWAR內罐下部、加热模块、固定板、真空电学接头、导线孔、样品杆内杆、PCB转接板，原位测试芯片。本发明在大温区设计的基础上，可以直接在样品处添加电学信号进行样品材料热电性能研究。采用液氮实现低温及高温冷却功能，快速制冷降温；样品杆头采用可拆卸方式，可以更换扩展功能，实现单一低温、高温或同时实现全温区；加热模块采用芯片微区加热方式，降低热接触，减小热漂移。使用加大工作微区设计，测温元件采用电阻信号变化检测，可以实现实时准确的温度检测。 |
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