| 专利名称 | 一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统 | 申请号 | CN201820024768.6 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207743192U | 公开（授权）日 | 2018.08.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 邰凯平;王忠良 | 主分类号 | H01J37/20(2006.01)I | IPC主分类号 | H01J37/20(2006.01)I;H01J37/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统 至一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及透射电子显微镜配件及低维材料原位测量研究领域，具体为一种透射电子显微镜用原位电学样品杆系统。该系统包括：用于传导电信号的高真空圆形气密连接器、表面绝缘的中空样品杆框架、置于样品杆框架内的导线、陶瓷加热片、热敏电阻、控温单元、加热芯片等。热敏电阻和陶瓷加热集成于微型样品台上，通过导线和圆形气密连接器与外部电路单元连接，用于监控微型样品台的加热温度、加热速率和温度稳定性；加热芯片置于微型样品台上，可进一步对样品微区进行温度调控。本实用新型最大限度地实现在真空环境中和加热、加电外场条件下对材料宏观性能的原子尺度测量与研究，广泛适用于探究各种高温相变、电学性能、热电性能、化学反应等。 |
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