结构光投影快速测量装置

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专利名称 结构光投影快速测量装置 申请号 CN201820076413.1 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN207741710U 公开(授权)日 2018.08.17 申请(专利权)人 中国科学院西安光学精密机械研究所 发明(设计)人 宋宗玺;李宝鹏;雷浩;淡丽军;王峰涛;孙忠涵;李伟;成鹏飞;高伟;樊学武 主分类号 G01B11/25(2006.01)I IPC主分类号 G01B11/25(2006.01)I 专利有效期 结构光投影快速测量装置 至结构光投影快速测量装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型属于光电检测领域,具体涉及一种结构光投影快速测量装置。测量装置包括相机和布置在相机周围的光学投影系统,所述光学投影系统包括N个衍射光栅和与衍射光栅一一对应的N个光源,光源投影到光栅后产生正弦图案的相移条纹图;N个衍射光栅产生的N幅相移条纹图之间具有2π/N的相位差,N个光源分别通过同步电路与相机相连。本实用新型解决了现有的测量设备体积大、质量重且测量速度慢的技术问题。

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