| 专利名称 | 一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法 | 申请号 | CN201610717298.7 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106248351A | 公开（授权）日 | 2016.12.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 薛勋;赵建科;刘尚阔;张洁;胡丹丹;李坤;曹昆;昌明;王争锋;李晶;赵怀学;陈永权;段亚轩;田留德;潘亮;徐亮;刘峰;赛建刚;周艳;高斌;高博 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法 至一种光学系统鬼像测量装置及其测量方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明提供一种光学系统鬼像测量装置，沿光路依次设置有光源、扩束准直系统、双路旋转式轴向指向可调分光系统和待测光学系统；双路旋转式轴向指向可调分光系统包括分光组件、旋转组件、轴向伸缩组件、折轴镜、指向调整组件和支撑组件；分光组件设置于轴向伸缩组件的一端，指向调整组件设置于轴向伸缩组件的另一端；折轴镜安装于指向调整组件上；旋转组件带动轴向伸缩组件、分光组件、折轴镜及指向调整组件旋转。使用分光棱镜的特性，将一束准直扩束光束分为两路，通过双路旋转式轴向指向可调分光系统，可实现分光光路绕透射光轴夹角锥面旋转，得到待测光学系统的三维空间鬼像位置的分布。 |
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