| 专利名称 | 用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统 | 申请号 | CN201721746135.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207636185U | 公开（授权）日 | 2018.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 闫亚东;何俊华;许瑞华;齐文博;韦明智;吴冰静 | 主分类号 | G01J3/42(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/42(2006.01)I | 专利有效期 | 用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统 至用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型属于光学测量技术领域，具体涉及一种用于集束打靶激光的全孔径背向散射光测量系统，该系统包括多个具有同一离轴抛物面面型的反射型散射板，所有反射型散射板的反射面位于同一个抛物面上，所述抛物面的焦点处设置有探头组。本实用新型采用一个探头组直接对多个反射型散射板的漫反射光叠加信号进行测量，具体包括空间分布测量、光谱测量、时间测量、能量测量等，本实用新型显著简化了取样和测量光路，具有效率高、体积小、光路简单、能量损伤阈值高等优点。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障