| 专利名称 | PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统 | 申请号 | CN201721757889.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207636279U | 公开（授权）日 | 2018.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 李朝辉;赵建科;徐亮;刘峰;李晓辉;张玺斌;于敏;伍建军;张海洋 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统 至PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型属于光学系统杂散光测试领域，具体涉及PST测试中入瞳电压值标定系统及PST测试系统。沿光路依次设置激光器、积分球、斩波器、离轴抛光管及PMT探测器；还包括锁相放大器与设置在离轴抛光管焦面处的星点板；锁相放大器与PMT探测器及斩波器电连接；激光器光束耦合进积分球，积分球的出射光依次经过斩波器、离轴抛光管后进入PMT探测器。PST测试时，结合平行光管出光口的照度及PMT探测器在增益M1下的响应度计算待测光学系统入瞳孔径处的电压值。解决了使用衰减片或计算标定时，入瞳电压难以准确获取的问题。 |
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