| 专利名称 | 角锥棱镜回射光斑定位精度检测装置 | 申请号 | CN201721772364.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207636023U | 公开（授权）日 | 2018.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 阮萍;张福瑞;韩俊锋 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 角锥棱镜回射光斑定位精度检测装置 至角锥棱镜回射光斑定位精度检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 为了解决现有角锥棱镜回射光斑定位精度检测装置精度较低、设计难度高的问题，本实用新型提供了一种检测精度高、设计简单的角锥棱镜回射光斑定位精度检测装置。本实用新型首先对光路光轴进行标校以减小系统误差对检测精度的影响，然后通过振动模拟平台模拟不同星上振动情况，采用刷新率高的四象限探测器作为探测元件实现了光斑中心位置误差的高精度测量。 |
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