| 专利名称 | 原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法 | 申请号 | CN201710271676.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN107063456A | 公开（授权）日 | 2017.08.18 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 邵建达;刘世杰;王圣浩 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法 至原位时间分辨光栅衍射效率光谱测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置和方法，测量装置包括超连续谱激光器、声光滤波器、光阑、偏振片、分束器、待测光栅、参考光高速探测器、聚焦透镜、积分球、测试光高速探测器和快电子学组件。超连续谱激光器和声光滤波器用于产生单色光束，参考光高速探测器用于测量参考光束的强度，积分球和测试光高速探测器用于测量衍射光束的强度，快电子学组件用于数据采集和数据处理。本发明在测量过程中，仪器的所有机械部件始终保持静止，光栅衍射效率光谱的测量速度因而得到了大大的提高，可实现原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量。 |
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