| 专利名称 | 一种星载二维指向机构测角精度检测装置 | 申请号 | CN201721095030.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207528248U | 公开（授权）日 | 2018.06.22 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 张勇;孙胜利;陈凡胜;杨萍;靳潇伦;邓容;刘佳;王雅静;韩昌佩 | 主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01C25/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种星载二维指向机构测角精度检测装置 至一种星载二维指向机构测角精度检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本专利公开了一种星载二维指向机构测角精度检测装置。检测装置主要包括经纬仪及经纬仪固定工装、大理石台、感应同步器前放盒、扫描与指向控制电路箱、指向机构固定工装、稳压电源、数据采集和处理计算机。检测方法通过调整指向机构安装工装实现测量轴与水平面垂直，采用感应同步器前放盒和控制电路箱实现二维视场内等间隔角度指向，每次指向角度为20角分，并用经纬仪进行测量，比对经纬仪的测量角度和感应同步器的测量角度得到测角精度数据。同理，更换安装工装进行另一维测角精度测量。本专利在二维指向机构转角受限情况下实现了视场内的测角精度检测，经测量标定后满足指标要求，为卫星在轨高的定位精度提供了保障。 |
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