| 专利名称 | 基于单次曝光模式的光栅衍射效率光谱的测量装置和方法 | 申请号 | CN201610242396.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105928688A | 公开（授权）日 | 2016.09.07 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘世杰;王圣浩;张志刚;李灵巧;王微微;周游;潘本威;白云波 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I;G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 基于单次曝光模式的光栅衍射效率光谱的测量装置和方法 至基于单次曝光模式的光栅衍射效率光谱的测量装置和方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量装置,包括光源模块、参考光模块和测试光模块，光源模块为测试系统提供光源，参考光模块由凹面准直镜、标准参考光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量参考光束的光谱参数；测试光模块由凹面准直镜、待测光栅、凹面聚焦镜和线阵CCD探测器组成，用于测量测试光束的光谱参数。本发明提高了光栅衍射效率光谱的测试速度，可以实现超快速的光栅衍射效率光谱的测量，可以应用于原位时间分辨光栅衍射效率光谱的测量环境中；在测量过程中，仪器的所有机械结构保持静止，测试系统因而具有较高的机械稳定性。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障