| 专利名称 | 一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法 | 申请号 | CN201610200692.3 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105841926A | 公开（授权）日 | 2016.08.10 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 张洁;焦璐璐;张欢;赵怀学;周艳;胡丹丹;薛勋;郭毅;刘峰;段亚轩;赛建刚 | 主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法 至一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于光学检测领域，公开了一种光学系统测试用快速定位装置及定位方法，通过本发明的定位装置记录下标准光学系统在测试设备上的测试姿态，更换被测光学系统后，在测试设备上复现该姿态，该姿态通过本发明的定位装置进行了一系列转换，基准镜法线方向代表光学系统的测试姿态，自准直光管光轴作为标准姿态的基准，再更换被测光学系统时，只需通过二维调整台将基准镜法线调至与自准直光管光轴平行即可实现姿态复现。本发明结构简便，定位准确性高，适合批量化产品的流水线作业，定位结束后，可直接进行相应指标的测试，免去了传统测试前的调试过程。 |
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