| 专利名称 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 | 申请号 | CN201610110814.X | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105784330A | 公开（授权）日 | 2016.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 曹军胜;高志坚;尹红贺 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 至半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 半导体激光器巴条单元一致性检测仪及其检测方法，属于半导体激光器的检测技术领域，为了检测激光器巴条各单元光电特性的均匀性，将探针台、光学透镜和线阵CCD均安装于一维导轨上；线阵CCD和程控电流源均与微控制器系统连接；被测巴条安装于探针台上，程控电流源的输出端连接探针台的电极，电极与被测巴条连接；微控制器系统控制程控电流源驱动被测巴条，被测巴条的各发光点经过光学透镜成像于线阵CCD，微控制器系统通过线阵CCD采集被测巴条各发光点的亮度峰值，扫描电流每增大一步，微控制器系统就读取一次线阵CCD，直至有发光点的亮度峰值达到线阵CCD的饱和值为止；微控制器系统以被测巴条各发光点的亮度为样本计算其方差。 |
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