| 专利名称 | 一种深紫外光倍频测试装置 | 申请号 | CN201721252633.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207336352U | 公开（授权）日 | 2018.05.08 | 申请（专利权）人 | 中国科学院理化技术研究所 | 发明（设计）人 | 宗楠;杨峰;杨尚;彭钦军;许祖彦;张申金;王志敏;张丰丰 | 主分类号 | G01N21/33(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/33(2006.01)I | 专利有效期 | 一种深紫外光倍频测试装置 至一种深紫外光倍频测试装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种深紫外光倍频测试装置，属于光学非线性频率变化技术领域，该测试装置包括：光源(1)设置在密闭暗室(2)外部的入口处，其发出紫外光进入到密闭暗室(2)内形成光路；密闭暗室(2)为真空或填充氮气的暗室；样品架(3)活动的设置在密闭暗室(2)内的光路上；样品库(4)设置在光路的一侧与样品架(3)对应的位置，容纳有一种或多种样品；样品控制杆(5)一端与样品架(3)连接，另一端伸出密闭暗室(2)，控制样品架(3)在样品库(4)与光路之间移动。本实用新型通过活动设置的样品架(3)和样品控制杆(5)实现了在密闭暗室(2)中置换样品无需开腔的目的，测量误差小，保证了测试结果的重复性和可比性。 |
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