| 专利名称 | 确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置 | 申请号 | CN201721449208.7 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207351918U | 公开（授权）日 | 2018.05.11 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 郭广妍;林蔚然;樊仲维;宋菲君;陈艳中 | 主分类号 | G01N21/94(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/94(2006.01)I;G01N21/958(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I | 专利有效期 | 确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置 至确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 一种确定透明材料表面瑕疵/污渍所在位置的装置，所述装置包括：光源、相机、用于相机定位的定位装置、数据处理装置和判断装置，其中所述光源和所述相机位于所述透明材料同一侧，所述光源发射的自然光以布儒斯特角入射到所述透明材料的表面，所述定位装置将相机定位于入射光经所述透明材料的上表面或下表面反射后的反射光路上，所述相机用于分别观测上表面和下表面的成像，数据处理装置用于记录入射位置信息和所述相机观测到的成像信息，并对成像信息进行处理获得成像的强度，判断装置根据相机观测到的瑕疵/污渍的光强来判断瑕疵/污渍的位置。本实用新型的装置构造简单，能够准确、快速地实现透明材料瑕疵/污渍位置的判断。 |
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