| 专利名称 | 一种用于磁通门磁芯性能检测装置 | 申请号 | CN201721311130.2 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207366720U | 公开（授权）日 | 2018.05.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院地质与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 杜爱民;赵琳;孙树全;曹馨;冯晓;李智 | 主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | IPC主分类号 | G01R33/12(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于磁通门磁芯性能检测装置 至一种用于磁通门磁芯性能检测装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本申请提供了一种用于磁通门磁芯性能检测装置，所述检测装置包括：屏蔽筒，用于屏蔽外界磁场的信号，在屏蔽筒内形成零场环境；旋转单元，用于为检测平台提供旋转动力；检测平台，用于安装待测磁芯；电路模块，用于为旋转单元和检测平台供电并提供电信号通路；支架结构，用于为整个磁通门磁芯检测装置提供支撑结构。本申请实现了在磁通门传感器组装前对磁芯性能的检测，增加了成品率，降低了资源的浪费。 |
1、源头对接，价格透明
2、平台验证，实名审核
3、合同监控，代办手续
4、专员跟进，交易保障