| 专利名称 | 扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法 | 申请号 | CN201710183419.9 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106949966A | 公开（授权）日 | 2017.07.14 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王瑄;李中梁;王向朝;曾爱军;南楠;陈艳;潘柳华;卢宇;宋思雨 | 主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/28(2006.01)I | 专利有效期 | 扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法 至扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种扫频光学相干层析成像系统的光谱标定方法，在扫频光学相干层析成像系统的参考臂中放置一个透明薄片，利用该透明薄片可以获得光程差为2nd的固定光程差干涉信号。通过密集采样采集系统的干涉信号，该信号包含薄片的干涉信号和样品干涉信号，利用薄片的干涉信号进行光谱标定，获得波数等间隔的样品干涉信号，再进行逆傅里叶变换的数据处理和图像重建算法，即可获得样品的层析结构图像。本发明利用一个透明薄片实现系统干涉信号的实时标定，结构简单，使用方便，避免了使用马赫?曾德(MZI)干涉仪等额外的器件，降低了系统成本和复杂性。 |
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