| 专利名称 | 用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台 | 申请号 | CN201610427984.0 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106124171A | 公开（授权）日 | 2016.11.16 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 邵建达;柯立公;徐子媛;杨留江;赵元安 | 主分类号 | G01M11/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/04(2006.01)I | 专利有效期 | 用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台 至用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 一种用于大口径光学元件光学性能检测的三维平台,包括水平移动(X轴)部分、竖直移动(Z轴)部分和水平旋转(C轴)部分。提出了一种针对不同尺寸光学元件可灵活装夹，并满足多种光学性能检测的平台设计方案。通过对机床的结构的合理布局，在最大限度预留多种光学性能检测所需要三维空间的同时，也解决了常规机械平台在光学检测领域通用性差的问题。 |
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