一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构

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专利名称 一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构 申请号 CN201720941633.1 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN207300918U 公开(授权)日 2018.05.01 申请(专利权)人 中国科学院宁波材料技术与工程研究所 发明(设计)人 田悦;夏卫星;裴科;吴博;杜娟;张健;刘平 主分类号 G01N23/04(2018.01)I IPC主分类号 G01N23/04(2018.01)I 专利有效期 一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构 至一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构 法律状态 说明书摘要 本实用新型公开了一种透射电子显微镜样品杆的原位芯片固定结构,包括手握柄、样品杆主体、样品杆杆头和真空电学接头。样品杆杆头的前部制有安装原位芯片的固定槽,并在固定槽的前端部设有用于固定原位芯片的非磁性压片。样品杆杆头的中部制有安装槽,安装槽内设有能转动的导电针安装座,导电针安装座上设有与真空电学接头相连接的非磁性导电针,非磁性导电针的端部与原位芯片上的电极触头相连接。样品杆杆头的尾端通过螺纹与样品杆主体可拆卸式连接,当使用不同类型的原位芯片时只需要换不同尺寸的样品杆杆头即可,而不需要置换整个样品杆,这样极大的提高了实验的时间成本和经济成本。

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