| 专利名称 | 一种测试探测器像元内不均匀性的装置 | 申请号 | CN201721026061.0 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207318050U | 公开（授权）日 | 2018.05.04 | 申请（专利权）人 | 中国科学院国家天文台 | 发明（设计）人 | 邱鹏;贾磊;邹思成;王建峰;兀颖;张鑫;芦嘉裕;陈腾;曾显群;李陶然 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种测试探测器像元内不均匀性的装置 至一种测试探测器像元内不均匀性的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型主要属于天文观测领域，具体涉及一种测试探测器像元内不均匀性的装置。所述装置包括点光源系统和运动平台；所述运动平台使得待测的探测器在XYZ三维方向上运动；所述点光源系统提供小于探测器像元尺寸的像斑，运动平台置于点光源系统一侧，所述点光源在所述点光源系统的探测器像元内成像。本实用新型提供了测量探测器像内不均匀性的装置和方法，使用该装置和方法可以测量探测器像元内不均匀性，便于筛除均匀性较差的探测器，同时测量得到的数据可作为探测器拍摄目标图像的校准使用。 |
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