| 专利名称 | 哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法 | 申请号 | CN201610858652.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106546326A | 公开（授权）日 | 2017.03.29 | 申请（专利权）人 | 中国科学院长春光学精密机械与物理研究所 | 发明（设计）人 | 宣丽;李大禹;徐焕宇;姚丽双;张佩光;曹召良;穆全全;杨程亮;彭增辉;刘永刚;王少鑫;张杏云;王启东;王玉坤;朱召义 | 主分类号 | G01J1/38(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J1/38(2006.01)I;G01J1/04(2006.01)I | 专利有效期 | 哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法 至哈特曼波前探测器子孔径内多项模式的波前探测方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明属于自适应光学技术领域，涉及哈特曼波前探测器的子孔径内存在前6项Zernike模式时的波前重构算法。其思想是：将哈特曼探测器中的背部相机置于微透镜阵列的离焦平面上，使光点斑扩展，利用光斑的光强分布解出发生低阶畸变的子波前。针对哈特曼波前探测器子孔径依次对第2到第6项Zernike模式的光响应进行模拟计算，如图1所示，得出子孔径响应矩阵；再利用传统方法测量整体波前的Zernike模式响应光斑阵列，通过子孔径响应矩阵解出每个子波前的模式系数向量，而整体波前响应矩阵的每个象元由解出的子波前模式系数向量组成。用该响应矩阵重构的整体波前能够保持自适应光学成像的高分辨率，提高了波前探测灵敏度。 |
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