| 专利名称 | 一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统 | 申请号 | CN201721313052.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207248791U | 公开（授权）日 | 2018.04.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海应用物理研究所 | 发明（设计）人 | 曹杰峰;王勇;朱方园;孟祥雨;甄香君;邰仁忠 | 主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N23/00(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统 至一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统，包括：一真空腔体，X射线从所述真空腔体的一端沿中轴线进入；通过一柔性管材在所述真空腔体的上方与所述真空腔体连接的二维位移台；与所述二维位移台连接并在所述柔性管材中竖直向下延伸的支杆，所述支杆上通过一导电基片固定有多种标准样品，所述标准样品在X射线的照射下产生电流；以及用于测量所述电流的测量装置。本实用新型提供了一种可以原位集成标准样品，因此得以快速高效测量标准样品，并且实现标准样品和实验样品吸收谱的同时测量，具有大幅提高的工作效率以及高可信度的用于软X射线近边吸收谱测量的原位标样系统。 |
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