| 专利名称 | 一种用透射电子衍射表征样品微取向的装置 | 申请号 | CN201721127296.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207248552U | 公开（授权）日 | 2018.04.17 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 马广财;张重远;胡红磊;王峥;孙明妍;张健;王健 | 主分类号 | G01N1/04(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N1/04(2006.01)I;G01N23/203(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用透射电子衍射表征样品微取向的装置 至一种用透射电子衍射表征样品微取向的装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型的目的在于提供一种用透射电子衍射表征样品微取向的高空间分辨率装置，包括样品夹持部件、连接件、真空旋转电机与样品台，其特征在于：样品台和连接件均为L型结构；样品台上部固定有真空旋转电机，下部与电镜相连；样品夹持部件固定在连接件上，连接件的侧面与真空旋转电机的电机传动杆相连。利用此装置可实现入射电子对透射样品的激发发生布拉格衍射，从而实现有效取向成像，测试过程中样品仰角可以根据需求原位转动，实现原位调整入射电子激发体积，为实现高分辨分析表征样品创造条件。 |
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