| 专利名称 | 一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法 | 申请号 | CN201610556164.1 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN106248209A | 公开（授权）日 | 2016.12.21 | 申请（专利权）人 | 中国科学院光电研究院 | 发明（设计）人 | 李立阳;张桂峰;明星;吕群波;周锦松;黄旻;赵宝玮 | 主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | IPC主分类号 | G01J3/45(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法 至一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开了一种基于仪器特征矩阵的干涉光谱仪光谱复原方法，该方法建立的仪器特征矩阵考虑了不同的误差和可能产生误差的因素，利用仪器特征矩阵建立的方程组的解必然比传统光谱复原结果精确；只要干涉光谱仪系统固定不变，实验环境没有较大变化，此方程组的仪器特征矩阵和误差矩阵一旦利用定标等方式确定后就不会再改变，以后再做实验进行光谱复原时就只需要收集采集到干涉数据后代入推出的固定方程组解公式求解即可，简单方便；与传统的光谱复原方法相比提高了复原结果的真实性和准确性，同时，较传统的光谱复原方法减少了处理环节，也提高了结果的真实性。 |
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