| 专利名称 | 一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统 | 申请号 | CN201721142630.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207197460U | 公开（授权）日 | 2018.04.06 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 王海;水泳;江宝坦;陆卫国;肖茂森 | 主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/26(2006.01)I | 专利有效期 | 一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统 至一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提出了一种用于虚光轴和结构靠面的高精度角度测量系统，能够实现对反光面和非反光面角度的高精度测量。该高精度角度测量系统包括标定装置、测角仪和转台；其中标定装置包括基准平面镜、靠面平面镜和标定座；所述基准平面镜、靠面平面镜通过各自的调节架分别安装于标定座的两个垂直邻接的第一立面、第二立面，标定座还具有与第一立面、第二立面均垂直邻接的第三面，该第三面中部设置有通光孔；在角度测量时所述第一立面作为标定座的底面平放于转台上，基准平面镜作为待测设备的安装底面，靠面平面镜用于引出待测设备结构靠面的法线方向，待测设备的输出光轴通过所述通光孔被测量。 |
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