基于单个囚禁离子的单光子源

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专利名称 基于单个囚禁离子的单光子源 申请号 CN201710043857.5 专利类型 发明专利 公开(公告)号 CN106683976A 公开(授权)日 2017.05.17 申请(专利权)人 中国科学院武汉物理与数学研究所 发明(设计)人 陈亮;何九洲;李冀;刘志超;冯芒 主分类号 H01J63/00(2006.01)I IPC主分类号 H01J63/00(2006.01)I;H01J63/02(2006.01)I;H04B10/70(2013.01)I 专利有效期 基于单个囚禁离子的单光子源 至基于单个囚禁离子的单光子源 法律状态 实质审查的生效 说明书摘要 本发明公开了基于单个囚禁离子的单光子源,包括真空室、离子阱芯片和钙原子炉,离子阱芯片包括参砷硅基片、第一二氧化硅层和第二二氧化硅层,参砷硅基片上设置有基片通孔,基片通孔的相对的侧壁分别设置有光纤固定槽,两个光纤固定槽内分别设置有共光轴的两个多模光纤,两个多模光纤的相对的端面为凹面,凹面的表面设置介质膜,两个多模光纤的凹面的焦点重合,两个多模光纤的凹面之间形成光学微腔,本发明实现单个离子的多普勒极限冷却。单光子源具有很高的产生效率。便于与现有的光通信系统连接。使制备的单光子线宽达到离子能级跃迁的自然线宽。

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