| 专利名称 | 一种金相显微镜样品宏观定位装置 | 申请号 | CN201720849785.9 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN207081885U | 公开（授权）日 | 2018.03.09 | 申请（专利权）人 | 中国科学院金属研究所 | 发明（设计）人 | 冯辉;刘鲁生;张重远;刘金民;许聪 | 主分类号 | G02B21/34(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/34(2006.01)I | 专利有效期 | 一种金相显微镜样品宏观定位装置 至一种金相显微镜样品宏观定位装置 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及金相显微镜部件技术领域，尤其涉及一种金相显微镜样品宏观定位装置。该装置的测试台通过内六角圆柱头螺钉固定在台面上，测试台为凹槽形结构，测试台的侧面开设三个水平分布的孔，其中两个孔内分别镶嵌定位柱，另一个孔内安装内六角凹端紧定螺钉；试样固定块通过内六角凹端紧定螺钉和两个定位柱固定在测试台的凹槽中心，试样镶嵌在试样固定块的上表面。本实用新型结合现有的半自动磨抛机、金相显微镜和显微硬度计等设备，搭建实验平台，利用显微硬度计对样品进行标记，使每次拍照时，金相照片的位置基本保持一致，将含有试样的宏观定位装置重新安放到金相显微镜上，这样每次照相时试样位置会基本保持一致。 |
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