| 专利名称 | 一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法 | 申请号 | CN201610236246.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105784335A | 公开（授权）日 | 2016.07.20 | 申请（专利权）人 | 中国科学院上海技术物理研究所 | 发明（设计）人 | 吴金才;何志平;舒嵘;王建宇 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法 至一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明公开一种标定基准镜法线方向的辅助光校装置及方法，特别适用于辅助基准镜法线方向标定、光学仪器的光轴监测等领域。该发明基于角锥棱镜的自准直功能，利用分光镜(Beam?Splitter)的分光功能将两束激光调节至互成180度,利用两束光互成180度的特点,其中一束光经过分光镜后直接出射，另一束光经过分光镜、基准镜反射后再次经过分光镜出射，通过调节基准镜的方向使得两束出射光的光轴重合，则该出射光的方向即为基准镜法线方向。本发明装置结构简单、成本低廉、标定方法简单。 |
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