| 专利名称 | 伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统 | 申请号 | CN201610173197.8 | 专利类型 | 发明专利 | 公开（公告）号 | CN105674883A | 公开（授权）日 | 2016.06.15 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 刘爱敏;肖茂森;高立民;陆卫国;王海霞;贾乃勋 | 主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G01B11/00(2006.01)I | 专利有效期 | 伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统 至伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统 | 法律状态 | 实质审查的生效 | 说明书摘要 | 本发明涉及一种伽利略望远镜组与柱面镜组合式二维位置测量光学系统，以解决现有光学系统在二维测量时长度尺寸易受限制的问题。本发明包括光源合作目标、伽利略望远镜组、分光镜组、柱面镜组、线阵CCD组；测量时，将被测物体与在光源合作目标固连；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第一柱面镜组变换为正交于第一线阵CCD的线像，完成X向的测量；光源合作目标在测量范围内的不同工作区域运动时所发出的光线经伽利略望远镜组、分光镜组和第二柱面镜组变换为正交于第二线阵CCD的线像，完成Y向的测量。本发明所提供的光学系统接近无焦，有效缩短了系统长度，使用方便。 |
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