| 专利名称 | 一种适用于细观结构观测的相机支架 | 申请号 | CN201720956488.4 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206960346U | 公开（授权）日 | 2018.02.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院武汉岩土力学研究所 | 发明（设计）人 | 王星;王新志;朱长歧;沈建华;吕士展;胡明鉴;孟庆山 | 主分类号 | G01N21/01(2006.01)I | IPC主分类号 | G01N21/01(2006.01)I | 专利有效期 | 一种适用于细观结构观测的相机支架 至一种适用于细观结构观测的相机支架 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型公开了一种适用于细观结构观测的相机支架，包括三根支杆、底板、顶板和两把直尺，三根支杆的上端固定于顶板上，三根支杆的下端固定于底板上，三根支杆的下端位于三角形的三个顶点上，底板在相机的拍摄区域内铺设有圆形的吸光纸，在吸光纸上设有第一标记线和第二标记线，第一标记线和第二标记线分别为吸光纸所在圆的半径，第一标记线和第二标记线相互垂直，两把直尺均固定于吸光纸上，吸光纸所在圆的圆心到两把直尺的垂直距离均大于试样桶的半径。该支架结构简单，操作方便，不仅可以保证试验过程中以及试验前后相机与试验对象的相对位置保持不变，而且还能在图像后处理分析时便于试验对象的识别，从而保证了试验结果的准确性。 |
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