一种适用于细观结构观测的相对密度仪

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专利名称 一种适用于细观结构观测的相对密度仪 申请号 CN201720956489.9 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN206960283U 公开(授权)日 2018.02.02 申请(专利权)人 中国科学院武汉岩土力学研究所 发明(设计)人 王星;王新志;朱长歧;沈建华;吕士展;胡明鉴;孟庆山 主分类号 G01N9/00(2006.01)I IPC主分类号 G01N9/00(2006.01)I;G01N9/36(2006.01)I 专利有效期 一种适用于细观结构观测的相对密度仪 至一种适用于细观结构观测的相对密度仪 法律状态 说明书摘要 本实用新型公开了一种适用于细观结构观测的相对密度仪,包括压块、试样桶、套桶、底座、摄像机和支架,试样桶包括底板和桶体,套桶、桶体和压块的横截面均呈弓形,桶体具有第一弧形侧壁和第一竖直平面侧壁,第一弧形侧壁顶部沿圆周方向设有第一弧形凹槽,第一竖直平面侧壁呈光学透明状,套桶具有第二弧形侧壁和第二竖直平面侧壁,第二竖直平面侧壁呈光学透明状,第二弧形侧壁底部设有第二弧形凹槽,第一弧形侧壁顶部插入第二弧形凹槽中,套桶置于试样桶顶部上,试样桶上设有刻度线,摄像机安装于支架上,摄像机与第一竖直平面侧壁的中央正相对。该相对密度仪结构简单,操作方便,能够有效捕捉试验前后及过程中土体细观结构的变化。

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