一种与X射线散射联用进行原位结构检测的吹塑薄膜装置

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专利名称 一种与X射线散射联用进行原位结构检测的吹塑薄膜装置 申请号 CN201720215641.8 专利类型 实用新型 公开(公告)号 CN206937906U 公开(授权)日 2018.01.30 申请(专利权)人 中国科学技术大学 发明(设计)人 李良彬;张瑞;纪又新;鞠见竹;张前磊;李立夫;萨玛德阿里;赵浩远 主分类号 B29C47/00(2006.01)I IPC主分类号 B29C47/00(2006.01)I;B29C47/08(2006.01)I;B29C47/92(2006.01)I;B29C55/28(2006.01)I;G01N23/20(2006.01)I 专利有效期 一种与X射线散射联用进行原位结构检测的吹塑薄膜装置 至一种与X射线散射联用进行原位结构检测的吹塑薄膜装置 法律状态 说明书摘要 本实用新型提供一种与X射线散射联用进行原位结构检测的吹塑薄膜装置,包括:小型实验用吹膜机由伺服电机精确控制挤出速度,采用无级调速风机使冷却速率可调,风环高度与出膜位置平齐保证X射线可检测到吹膜起始过程;两套升降机主要由伺服电机、丝杠和导向轴组成,设计承重200kg,通过运动控制器及安川MPE720程序精确控制升降速度和位移;由红外激光探头和控制柜组成的测温系统,可检测吹膜机在升降时距离出膜位置不同距离的膜泡温度。本实用新型既可保证吹膜机有效完成高分子料的熔融、混炼、挤出与膜泡的吹胀、冷却,又集成了精确垂直升降和精确测温系统,体积小且易于安装及拆卸,是原位研究不同高分子材料吹膜过程中结构变化的非常好的一套装置。

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