| 专利名称 | 基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统 | 申请号 | CN201720813337.3 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206906687U | 公开（授权）日 | 2018.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 雷铭;赵天宇;姚保利;杨星科;白明;周兴;但旦;千佳;汪召军 | 主分类号 | G02B21/00(2006.01)I | IPC主分类号 | G02B21/00(2006.01)I;G02B21/06(2006.01)I;G02B21/36(2006.01)I | 专利有效期 | 基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统 至基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型具体涉及基于径向偏振调制的干涉式结构光照明显微镜系统，解决了现有干涉式结构光照明显微成像系统偏振控制方法操作复杂、光能透过率低的问题。系统包括偏振分束器、半波片、空间光调制器、第一透镜、空间滤波器、涡旋半波片、双色镜、显微物镜、筒镜和数字相机；半波片和空间光调制器依次设置在偏振分束器的第一出射光路上；第一透镜、空间滤波器、涡旋半波片、双色镜和显微物镜依次设置在偏振分束器与第一出射光路垂直的第二出射光路上；筒镜、数字相机依次设置在双色镜垂直于第二出射光路的光路上。本实用新型采用的涡旋半波片降低了系统的复杂度，光能利用率高，适用于低功率激光器作为光源，便于结构光照明光学显微系统的集成。 |
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