| 专利名称 | 一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统 | 申请号 | CN201720676422.X | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206906000U | 公开（授权）日 | 2018.01.19 | 申请（专利权）人 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 发明（设计）人 | 陈钦芳;许亮;丁蛟腾;马臻;温文龙 | 主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | IPC主分类号 | G01M11/02(2006.01)I | 专利有效期 | 一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统 至一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型涉及一种基于时间分辨的点源透过率杂散光测试系统，系统包括沿光路依次设置的脉冲激光光源系统、光源整形系统、平行光管、待测光机系统、探测系统，还包括转台和信号采集和处理系统，脉冲激光光源系统出射的光经平行光管进入待测光机系统，到达待测光机系统的焦面，探测系统测量待测光机系统焦面处辐射能量随时间的分布，信号采集和处理系统计算离轴角度θ的点源透过率PST(θ)，统计bji(θ)，求解LJj(θ)，转动转台角度，测量不同离轴角度下杂散光传输时间分布特性曲线、点源透过率PST(θ)及Jj(θ)。本实用新型分析待测光机系统杂散光传输的时间分布特性与杂散光路径的关系，对系统杂散光问题的分析、定位和控制具有重要指导意义。 |
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