| 专利名称 | 扫描电镜截面样品台 | 申请号 | CN201220008605.1 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN202423212U | 公开（授权）日 | 2012.09.05 | 申请（专利权）人 | 国家纳米科学中心 | 发明（设计）人 | 朴玲钰 | 主分类号 | H01J37/20 | IPC主分类号 | H01J37/20; G01N23/22 | 专利有效期 | 扫描电镜截面样品台 至扫描电镜截面样品台 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型提供一种扫描电镜截面样品台，包括：基台，其上具有凹槽，基台的一侧具有至少一个内螺纹通孔，内螺纹通孔在凹槽的一侧壁上具有开口；固定片，放置于凹槽中；螺钉，可旋入内螺纹通孔中，并从凹槽的侧壁上突出，抵住固定片。 |
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