| 专利名称 | 应用于精密仪表的环境试验系统 | 申请号 | CN201720143293.8 | 专利类型 | 实用新型 | 公开（公告）号 | CN206832484U | 公开（授权）日 | 2018.01.02 | 申请（专利权）人 | 中国科学院测量与地球物理研究所 | 发明（设计）人 | 涂海波;何建刚;张为民;柳林涛;王勇 | 主分类号 | G01M99/00(2011.01)I | IPC主分类号 | G01M99/00(2011.01)I | 专利有效期 | 应用于精密仪表的环境试验系统 至应用于精密仪表的环境试验系统 | 法律状态 | 说明书摘要 | 本实用新型实施例提供了一种应用于精密仪表的环境试验系统，用于高精度测试精密仪器对温度、磁场、湿度、地倾斜等环境因素的适应能力和响应特性，包括：箱体；以及实验平台，用于放置被测试的仪器，且所述实验平台位于所述箱体内；其中，所述箱体安装于地面上，所述实验平台单独安装于基墩上，所述基墩与所述地面之间通过隔震沟隔开。本实用新型实施例，实验平台单独安装于基墩上，因此能够减小环境震动对试验的影响，从而提供低震动噪声的环境试验系统。 |
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